Gebruik van het instrument:

BMM-230BDDICDe omgekeerde metafasemicroscoop biedt uitstekende optische prestaties met een uitstekend optisch systeem voor oneindige afstand. Het compacte, stabiele en zeer stijve lichaam weerspiegelt volledig de vereisten voor trillingsbescherming bij microscopische werking. Het modulaire functionele ontwerp kan het systeem gemakkelijk upgraden om polarisatieobservatie, donker gezichtsveld observatie, duidelijk gezichtsveld differentiële interferentieobservatie en andere functies te realiseren. Het verlichtingssysteem houdt rekening met afkoeling en veiligheid en kan de lampen snel vervangen. Ideaal ontworpen voor ergonomische vereisten, waardoor het gebruik gemakkelijker en comfortabeler is en de ruimte groter is. Kan worden gebruikt voor halfgeleider silicium chips,LCDDe microobservatie van substraten, vaste poeders en andere industriële monsters is het ideale instrument voor onderzoek op het gebied van materiaalwetenschap en precisie-elektronica.

Prestatiekenmerken:

▲ Ook voor onregelmatige of grotere monsters kunnen microscopische observaties worden uitgevoerd.

▲ Een groot en helder gezichtsveld met een grote gezichtsveldbril en een vlakke kleurverdwijning op onbeperkte lange werkafstanden.

▲ Unieke anti-vibratie, schimmel systeem

Systeemprofiel:

Dit systeem is een high-tech product dat een perfecte combinatie van geavanceerde optische microscooptechnologie, geavanceerde fotoelektroconversietechnologie en geavanceerde computerbeeldverwerkingstechnologie ontwikkelt en succesvol ontwikkelt. Metalfase afbeeldingen kunnen gemakkelijk worden bekeken op een computermonitor, waardoor de metalfase kaarten kunnen worden geanalyseerd, beoordeeld, enz. Afbeeldingen kunnen worden uitgevoerd en afgedrukt.

Technische parameters:

Systeemconfiguratie: