VIP-lid
Japanse zonne-capaciteitstester HIOKI3504-50
Professioneel voor de thuisland gebruikers te leveren Japanse zonne capaciteitstester HIOKI3504-50 instrumenten apparatuur, testprogramma's, technisch
Productdetails
Leverancier van professionele instrumenten en testoplossingen - JETYOO INDUSTRIAL & JETYOO INSTRUMENTSDe voormalige Agilent [nu de KEYSIGHT] product technische ondersteuning engineer - KEYJET en KEITHLEY [nu Tektronix] product technische ondersteuning engineer - YOO werd in 2011 opgericht.Kenmerkend voor technische toepassingenHandelsmaatschappijen,Zestin jaar gericht op de industriële testindustrieVernietigd naar nieuw! Vul de import instrumenten apparatuur de meeste fabrikanten alleen in het binnenland gevestigd verkooppunten, maar de technische ondersteuning is zwak of niet, en de agent dealer is ook alleen gespecialiseerd in de verkoop, niet gespecialiseerd in het doen van pre-verkoop technische vragen / testprogramma's, niet gespecialiseerd in het doen van na-verkoop training / reparatie kalibratie leegte.
Japanse zonne-capaciteitstester HIOKI3504-50Afhankelijk van het meetdoel zijn er verschillende opties voor probe/testbevestiging beschikbaar in verschillende modellen
SMD-testgereedschap 9699, voor SMD DC ~ 120MHz met elektrode aan de onderkant, teststeekproef Maat: breed 1,0 ~ 4,0mm, hoog onder 1,5 mm
SMD-testgereedschap 9677, voor SMD DC ~ 120MHz met elektroden aan de zijkant, teststeekproefgrootte: 3,5 mm ± 0,5 mm
SMD-testgereedschap 9263, direct aansluitend type, DC-5 MHz Testafmetingen: 1mm-10.0mm
Testgereedschap 9262, DC～8 MHz, Directe verbinding
Testgereedschap 9261 Kabelaansluiting, DC tot 5 MHz, 1m lang
Pin sonde L2001, kabellengte 73cm, DC ~ 8MHz, 50Ω, front-end elektrode afstand: 0,3 ~ 6mm (IM9901: JIS grootte 1608 ~ 5750) (IM9902: JIS grootte 0603 ~ 5750)
Testsonde met 4 terminals 9140, DC tot 100kHz, 1 m lang
SMD-testgereedschap 9677, voor SMD DC ~ 120MHz met elektroden aan de zijkant, teststeekproefgrootte: 3,5 mm ± 0,5 mm
SMD-testgereedschap 9263, direct aansluitend type, DC-5 MHz Testafmetingen: 1mm-10.0mm
Testgereedschap 9262, DC～8 MHz, Directe verbinding
Testgereedschap 9261 Kabelaansluiting, DC tot 5 MHz, 1m lang
Pin sonde L2001, kabellengte 73cm, DC ~ 8MHz, 50Ω, front-end elektrode afstand: 0,3 ~ 6mm (IM9901: JIS grootte 1608 ~ 5750) (IM9902: JIS grootte 0603 ~ 5750)
Testsonde met 4 terminals 9140, DC tot 100kHz, 1 m lang
Japanse zonne-capaciteitstester HIOKI3504-50Basisparameters
Metparameters Cs, Cp (capacitief), D (verbruikcoëfficiënt tanδ)
Meetbereik C:0.9400pF～20.0000mF，D:0.00001～1.99000
Basisnauwkeurigheid C: ±0,09% rdg. ±10 dgt., D: ±0,0016, metingsnauwkeurigheid = basisnauwkeurigheid × B × C × D × E, B tot E voor elke factor
Meetfrequentie 120Hz, 1kHz
Signalniveau meten Constante spanningsmodus: 100mV (alleen 3504-60), 500 mV, 1 V
Metbereik:
CV 100mV: ~ 170μF (meetfrequentie 1kHz), ~ 1,45mF (meetfrequentie 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF (meetfrequentie 1kHz), ~ 1,45mF (meetfrequentie 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF (meetfrequentie 1kHz), ~ 700μF (meetfrequentie 120Hz)
Uitgangsweerstand 5 Ω (bij open-circuit terminalspanningsmodus buiten het CV-meetbereik)
Toon Lichtgevende secundaire buis (6-bits weergave, volledige schaalrekenaar afhankelijk van het bereik)
Mettijd Typische waarde: 2,0 ms (1 kHz, FAST) Afhankelijk van de meetfrequentie en de meetsnelheid
Functies BIN-classificatieve meting (met uitzondering van 3504-40), trigger-synchronisatieuitgang, meetgeheugen met voorwaarden, vergelijkingsfunctie voor meetwaarden, gemiddelde functie, Low-C-filterfunctie, trillingsfunctie, uitgangsingang voor besturing (EXT. I/O), RS-232C-interface (standaard), GP-IB-interface (met uitzondering van 3504-40)
Stroomvoorziening AC 100/120/220/240V ±10% (optioneel), 50/60Hz, max 110VA
Volume en gewicht 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
Bijlagen Voedingskabel x 1, voorbereidende voedingszekering x 1, gebruiksaanwijzing x 1
Online onderzoek
-
Contactpersonen
-
Bedrijf
-
Telefoon
-
E-mail
-
WeChat
-
Verificatiecode
-
Berichtinhoud
-