■Kenmerken van het product

*Uitvoert nauwkeurige ruwheidsanalyses op vlakken, schrappen, cilinderoppervlakken, binnengoten, cirkelboogoppervlakken, bollen enz.

*Meerdere ruwheidsnormen (GB/T3505-2000，GB/T6062-2001,GB/T10610-1998Wacht)

*UitrustingX-YWerktafel voor een aanzienlijke verbetering van de bedienbaarheid.

*Automatische correctiefunctie.

*Een breed bereik, hoge resolutie en een directe aandrijving zorgen voor een hoge nauwkeurigheid die beter is dan in zijn soort.

*Uitrust met eenvoudig bedienbare bedieningsbox voor starten/Stop met meten, terugkeren, enz. Boven de rijafdeling/De onderste positie enXDe beweging van de as en andere fijne bewerkingen.

*Het instrument is voorzien van een computer en speciale meetsoftware, voor een meer intuïtieve en gemakkelijke bediening, hoge nauwkeurigheid, hoge stabiliteit en gemakkelijke afdruk van rapporten en opslag van gegevens.

■Parameters van het instrument:

XDe as(Afdeling bestuur)

1.Meetbereik: 100mm

2.Resolutie: 0.5μm

3.Lengte benchmark:Hoge precisie verplaatsingssensor

4.Aanrijfsnelheid: 0 – 10mm/s

5.Metsnelheid: 0.5 - 2mm/s

ZDe as(De zuilen)

1.Type:Elektrische werking

2.Verticaal verplaatsen: 350mm

Detector

1.Omvang/resolutie: 1000μm / 0.01μm

2.Naaldpunt: 2um

3.Waardefouten: ±5%-—±7%

4.Herhaalbaarheid meten: ± 3% -—-±5%
5.Type:Differentiële inductie

6.Controle van aandrijvingen:Handmatig ofPCOperatie

Beoordelingsparameters

1.Ra, Rq, Rz, Ry, Rz(JIS), Ry(DIN),

Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc (Ppi), Sm,

HSC, mr, dc, plateau ratio,mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Da, Dq, la, lq, Sk, Ku,

Lo, Lr, A1, A2

1.Steekproeflengte1.0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mmGegevenscompensatiekanteling compensatie,RVlak(