I. Oppervlakte ruwheid contour meterJB-6CParameters
|
Ruwheidsmeting |
|
|
Testparameters |
Ra,,Rz,Rt,RS,RSm,Rp,Rv,Rmax,Rq,D,Pt, Lr,Ln,RSk,RΔq,Δa,λq,λa,R3t,Rt1,Rt2, Rt3,RT4,rt5Wacht even.Rmr(Tp)Curve |
|
Ruwheidsmeetbereik |
Ra 0.01 - 10 μm |
|
Steekproeflengte |
L : 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8 mm |
|
Bepaal de lengte |
1L-5LElke lengte verkrijgbaar |
|
Minimum weergegeven waarde |
0.001um |
|
Verhouding tussen bereik en resolutie |
65,536:1 |
|
Waardefouten |
≤±3% |
|
Meet de maximale hoogte van het werkstuk |
300mm |
|
Samplingssnelheid |
0.5 mm/sec,1mm/sec |
|
bewegingssnelheid |
2 mm/sec |
|
Axiaal meetbereik |
100mm |
|
Meetbereik van kleine gaten |
≥ф5 mm |
|
Verstelbare werktafel |
Rotatiehoek: ±10graden Schakelbereik: ±10graden X-YBewegingsbereik:15 mm |
|
Contuurmeting |
|
|
Meetbereik |
X:100mm Z:10mm |
|
Sensorbereik |
X:100mm Z:10mm |
|
Verhouding tussen bereik en resolutie |
65,536:1 |
|
Straalfouten |
0.1%-1.0% |
|
Gebruiksgebied |
X:100mm Z: 370mm |
|
Nettogewicht |
110 Kg |
|
Afmetingen |
620mm*400mm*720mm |
II. Volledigheid
|
1 |
Ruwheidsmeter host:1Stage |
9 |
Ruwheidssjabloon:1een |
|
|
2 |
Pijlaren en marmeren basis:1Stage |
10 |
Computerprinter:1Set |
|
|
3 |
Controller aandrijving:1Set |
11 |
Gebruiksaanwijzing, garantiekaart, certificaat:1Set |
|
|
4 |
Sensoren:1Stage |
12 |
▼Hoek aanpassen werktafel:1een (5C/6C) |
|
|
5 |
X-YWerkplaats:1een |
13 |
▼Verstelbare werktafel:1een (5C/6C) |
|
|
6 |
VType:1een |
14 |
▼Apparatuur:1Set (5C/6C) |
|
|
7 |
Standaard naald:1een |
15 |
▼Kontuurnaald:1een (5C/6C) |
|
|
8 |
Kleine gaatjes:1een |
16 |
▼profiel standaard bal:1een (5C/6C) |
|
