箱体结构 (Afwisselend hoge en lage temperatuur testkamer)

Hoge en lage temperatuur testkastLichaam met behulp van CNC-gereedschapsmachine bewerking vormen, vormen mooi en grootse, en het gebruik van geen reactie handvat, eenvoudige bediening.

De binnenkast van de doos is gemaakt van geïmporteerde hoogwaardige roestvrijstalen (SUS304) spiegelplaat, en de buitenkant van de doos is gemaakt van A3-staalplaat spuitgiet, wat de uiterlijk textuur en schoonheid verhoogt.

De hoge en lage temperatuur testkast met een groot observatievenster met verlichting houdt de kast helder en maakt gebruik van ingebouwd gehard glas in het verwarmingslichaam om de toestand in de kast op elk moment duidelijk te observeren.

De linkerkant van de doos is voorzien van een testgat met een diameter van 50 mm, dat kan worden gebruikt voor externe testkabels of signaalkabels.

Controlesysteem

De hoge en lage temperatuur testkast maakt gebruik van de oorspronkelijke geïmporteerde Japanse "Yue Easy Control" merk temperatuur meter, 7 inch HD true color LCD touch display. Na de invoer van gegevens en testomstandigheden heeft de controller een vergrendelingsfunctie om te voorkomen dat de temperatuurwaarden veranderen door menselijke aanraking.

Met de automatische berekening van P.I.D. kunnen temperatuurveranderingen onmiddellijk worden gecorrigeerd, waardoor de temperatuurregeling nauwkeuriger en stabieler is.

Optioneel met printer.

Circulatiesysteem

De koelmachine maakt gebruik van een volledig gesloten compressor van de originele Franse "Tecon".

Het koelsysteem is ontworpen met een eenheids- of binair laagtemperatuursysteem.

Het gebruik van meervleugelijke ventilatoren zorgt voor een krachtige ventilatiecyclus om dode hoeken te vermijden en zorgt voor een gelijkmatige temperatuurverdeling binnen het testgebied.

Het ontwerp van de windweg is ontworpen om de winddruk en de windsnelheid in overeenstemming te brengen met de testnormen en kan de temperatuur snel stabiliseren wanneer de deur wordt geopend.

Verwarming, koeling en volledige onafhankelijkheid van het systeem kunnen de efficiëntie verbeteren, de testkosten verlagen, de levensduur verhogen en het foutpercentage verminderen.

Voldoet aan de normen

GB/T2423.1-2008 GB/T2423.2-2008